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超聲波測厚儀

超聲波測厚儀根據超聲波脈沖反射原理來進行厚度測量,當探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測物體到達材料分界面時,脈沖被反射回探頭,通過精度測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。

  • 產品型號:leeb332
  • 廠商性質:經銷商
  • 更新時間:2020-07-15
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產品詳情

   

超聲波測厚儀  

型號: leeb332 

儀器資料:  

工作原理

超聲波測厚儀根據超聲波脈沖反射原理來進行厚度測量,當探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測物體到達材料分界面時,脈沖被反射回探頭,通過精度測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。

 

技術參數

 

項目名稱

Leeb332

示值誤差

±(1%H+0.1)mm H為被測物體實際厚度

測量范圍

0.75~350mm(鋼,由探頭決定,標配探頭范圍1~250mm

顯示分辨率

0.01mm

聲速范圍

1000~9999m/s

存儲

2000

使用環(huán)境

-10~60℃(非高溫探頭)  -10~300℃(高溫探頭)

PC通訊

電源

AA型堿性電池2節(jié)

工作時間

100小時

殼體材料

金屬外殼

外形尺寸

130*70*25 mm

重量

450g

標準配置

主機、L51探頭、堿性電池2節(jié)、耦合劑

可選配件

各類探頭、耦合劑、打印紙

 

 

探頭參數

類型型號名稱頻率(MHz)探頭直徑測量范圍小管徑特性描述
標準探頭L585P10/90510mm0.8~200 mm(鋼)Φ20mm×3.0mm常溫使用(<60℃)
標準探頭L515P10510mm1.0~250 mm(鋼)Φ20mm×3.0mm常溫使用(<60℃)
微徑探頭L777P676mm0.7~50 mm(鋼)Φ15mm×2.0mm薄壁及小弧面測量,
常溫使用(<60℃)
粗晶探頭LZ2SZ2.5P222mm2.5~350 mm(鋼)Φ20mm鑄鐵等粗晶材質測量,
常溫使用(<60℃)
高溫探頭LG5 514mm2~100 mm(鋼)Φ30mm可用于高溫度材料的測量
(<300℃)
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